Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/271099
Заглавие документа: | Influence of Swift Heavy Ions Irradiation on Carrier Transport of Polyimide Films |
Авторы: | Fedotova, Julia Apel, Pavel Fedotov, Alexander K. Pashkewich, Alexey Svito, Ivan |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 2021 |
Издатель: | Минск : БГУ |
Библиографическое описание источника: | Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 14-й Междунар. конф., посвящ. 100-летию Белорус. гос. ун-та, Минск, Беларусь, 21-24 сент. 2021 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2021. – С. 242-246. |
Аннотация: | In the present paper we report results concerning the influence of Swift Heavy Ions (SHI) irradiation on the mechanisms of electron transport in 22 µm thick polyimide (PI) films. The PI films were subjected to SHI irradiation with fluences 1×10 8 ions/cm2. The following etching of latent tracks with the 13% NaOCl solution resulted in the formation porous PI membranes (PPI). It is shown that the formation of carboxyl (COOH) moieties on the internal surfaces of the formed pores results in creation of highly-conductive layers along the pores. Experimental and modelling studies of transversal I – V characteristics in Cu/PI/Cu and Cu/PPI/Cu structures in the temperature range 240 - 300 K have shown that the low-temperature carrier transport is due to the formation of space charge limited current and described by the improved Mott-Gurney law developed in Mark-Helfrich model |
Доп. сведения: | Секция 3. Модификация свойств материалов = Section 3. Modification of material properties |
URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/271099 |
ISSN: | 2663-9939 (Print) 2706-9060 (Online) |
Располагается в коллекциях: | 2021. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
242-246.pdf | 378,43 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.