Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/271045
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorИсаханов, З. А.
dc.contributor.authorУмирзаков, Б. Е.
dc.contributor.authorНасриддинов, С. С.
dc.contributor.authorМухтаров, З. Э.
dc.contributor.authorЕркулов, Р. М.
dc.date.accessioned2021-10-28T08:18:46Z-
dc.date.available2021-10-28T08:18:46Z-
dc.date.issued2021
dc.identifier.citationВзаимодействие излучений с твердым телом : материалы 14-й Междунар. конф., посвящ. 100-летию Белорус. гос. ун-та, Минск, Беларусь, 21-24 сент. 2021 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2021. – С. 72-76.
dc.identifier.issn2663-9939 (Print)
dc.identifier.issn2706-9060 (Online)
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/271045-
dc.descriptionСекция 1. Процессы взаимодействия излучения и плазмы с твердым телом = Section 1. Processes of Radiation and Plasma Interaction with Solids
dc.description.abstractИзучены пространственные распределения ионов (К+, Na+), прошедших через тонкие поликристаллические и монокристаллические пленки Al с толщиной от 18 до 60 нм и критические углы каналирования. Энергия ионов варьировались в пределах Е0= 10-30 кэВ. Показано, что увеличение энергии пучка первичных ионов приводит к уменьшению ширины максимумов углового распределения, что связано с уменьшением критического угла каналирования ψ кр. Установлено, что ψ кр для осевого каналирования не превышает 4-5°, а плоскостного каналирования – 9-10°
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleОпределение углов каналирования ионов активных металлов через тонкие пленки алюминия
dc.title.alternativeStudy of the critical angle of channeling of active metal ions through thin aluminum films / Z.A. Isakhanov, B.E. Umirzakov, S.S. Nasriddinov, Z.E. Мuhtarov, R.M. Yorkulov
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeThe spatial distributions of ions (K+, Na+) passed through thin polycrystalline and single-crystalline Al films with the thickness from 18 to 60 nm and critical channeling angles have been studied. The ion energies have been varied within the range E0= 10-30 keV. It has been shown that an increase in the energy of the primary ion beam leads to a decrease in the width of the maxima of the angular distribution, which is associated with a decrease in the critical channeling angle ψ cr. It has been found that the value ψ cr does not exceed 4-5° for axial channeling and 9-10° for planar channeling
Располагается в коллекциях:2021. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
72-76.pdf394,5 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.