Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/259544
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Zhikol, O. A. | - |
dc.contributor.author | Luzanov, A. V. | - |
dc.contributor.author | Omelchenko, I. V. | - |
dc.contributor.author | Pushkarchuk, A. L. | - |
dc.contributor.author | Pushkarchuk, V. A. | - |
dc.contributor.author | Nizovstev, A. P. | - |
dc.contributor.author | Kilin, S. Y. | - |
dc.contributor.author | Bezyazychnaya, T. V. | - |
dc.contributor.author | Kuten, S. A. | - |
dc.date.accessioned | 2021-05-07T13:33:37Z | - |
dc.date.available | 2021-05-07T13:33:37Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.citation | Funct Mater 2018;25(2):337-341. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/259544 | - |
dc.description.abstract | We studied electronic properties of the ground and lowest excited states of SiC defective nanoclusters falling into 3C, 2H and 4H polymorphic types. The standard time-dependent DFT method was used along with the economical model-core-potential approximation. Basing on our earlier works, we performed the corresponding excited state structural analysis and show for the lowest triplet-triplet ransition a significant effect of excitation localization in the defect vicinity. © 2018 - STC "Institute for Single Crystals". | ru |
dc.language.iso | en | ru |
dc.publisher | Scientific and Technological Corporation | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Use of density functional theory for modeling optical properties of vacancy defects in nanoclusters of various SiC polytypes | ru |
dc.type | article | ru |
dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
dc.identifier.DOI | 10.15407/fm25.02.337 | - |
dc.identifier.scopus | 85049122551 | - |
Располагается в коллекциях: | Статьи НИУ «Институт ядерных проблем» |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
18-Zhikol.pdf | 606,21 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.