Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/246387
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Лабуда, А. А. | - |
dc.contributor.author | Сидерко, А. А. | - |
dc.contributor.author | Простов, И. В. | - |
dc.date.accessioned | 2020-07-20T10:17:50Z | - |
dc.date.available | 2020-07-20T10:17:50Z | - |
dc.date.issued | 1996 | - |
dc.identifier.citation | Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – 1996. – № 2. – С. 14-17. | ru |
dc.identifier.issn | 0321-0367 | - |
dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/246387 | - |
dc.description.abstract | Charge stability of doped silicate glasses used as planarization isolation in the production of integrated circuits has been studied experimentally. The multifactor dependence of this parameter has been established, and possible methods for stabilizing the charge states have been proposed | ru |
dc.description.sponsorship | Работа выполнена при финансовой поддержке НПО “Интеграл”. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : Універсітэцкае | ru |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Зарядовая стабильность боро- и борофосфоросиликатных стекол | ru |
dc.type | article | ru |
dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
Располагается в коллекциях: | 1996, №2 (май) |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.