Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/24127
Заглавие документа: Определение ширины запрещенной зоны полупроводников из спектров электродного фотопотенциала
Другое заглавие: Band gap determination of semiconductor electrodes from photopotential spectrum
Авторы: Кулак, А. И.
Стрельцов, Е. А.
Рабчинский, С. М.
Дата публикации: 2011
Издатель: Минск: БГУ
Библиографическое описание источника: Свиридовские чтения: Сб. ст. Вып.7.
Аннотация: Разработана методика определения оптической ширины запрещенной зоны для полупроводниковых электродов на основе измерения спектральной зависимости электродного фотопотенциала. Анализ спектров фотопотенциала экстраполяцией линейного участка (Δφph ħω)n – ħω кривой на ось энергий позволяет определить тип оптических переходов (прямые при n = 2 либо непрямые при n = ½) полупроводниковых электродов. На примере электрохимически осажденных пленок CdTe показано, что их ширина запрещенной зоны изменяется от 1,51 до 1,47 эВ (прямые оптические переходы) при увеличении толщины пленки от 5 до 20 мкм. Предполагаемой причиной уменьшения Eg является увеличение концентрации дефектов при увеличении толщины пленки. Библиограф. 19 назв., ил. 3, табл. 1.
Доп. сведения: The method of band gap determination for semiconductor electrodes was developed from analysis of photopotential spectrum measured in contact with an electrolyte. Optical band gaps were found for n-Si monocrystal and electrodeposited CdTe films by extrapolation of linear dependence (Δφph ħω)n – ħω to energy axis (Δφph – photopotential, n = 2 for direct and n = ½ for indirect transitions, ħω – light quantum). The band gap of CdTe films decreases from 1,51 to 1,47 eV (direct optical transitions) with increasing film thickness from 5 to 20 μm. It is due to the increase in the defect concentration of cadmium telluride during film growth.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/24127
Располагается в коллекциях:Статьи химического факультета

Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.