Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/23929
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorMakarenko, Leonid F-
dc.date.accessioned2012-11-16T12:20:36Z-
dc.date.available2012-11-16T12:20:36Z-
dc.date.issued2001-
dc.identifier.citationSemiconductor Science and Technology, v. 16, no 7, p. 619ru
dc.identifier.issn0268-1242-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/23929-
dc.language.isoruru
dc.publisheriop scienceru
dc.titlereevaluation of energy levels of oxygen-vacancy complex in silicon crystals: 1. weak compensationru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Математическое моделирование

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
5_2001_sst-pap.pdf181,7 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.