Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/223237
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Дедович, Н. Н. | - |
dc.contributor.author | Кузьминых, В. А. | - |
dc.contributor.author | Лазарчик, А. Н. | - |
dc.contributor.author | Ломако, В. М. | - |
dc.contributor.author | Пранович, В. И. | - |
dc.contributor.author | Романов, А. Ф. | - |
dc.date.accessioned | 2019-07-09T08:13:38Z | - |
dc.date.available | 2019-07-09T08:13:38Z | - |
dc.date.issued | 2008 | - |
dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. III Междунар. науч. конф., Минск, 25-26 сент. 2008 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск : БГУ, 2008. - С. 16-19 | ru |
dc.identifier.isbn | 978-985-518-091-4 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/223237 | - |
dc.description.abstract | Емкостные методы исследования электрических характеристик барьерных структур достаточно широко и результативно используются для измерения концентрации, энергии ионизации и сечения захвата носителей ловушками в полупроводниках. В данной работе кратко описан разработанный аппаратно-программный комплекс (в дальнейшем - емкостный спектрометр) для измерения статических и динамических вольт-емкостных характеристик барьерных полупроводниковых структур. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Цифровой емкостный спектрометр СЕ-6 | ru |
dc.type | conference paper | ru |
Располагается в коллекциях: | 2008. Материалы и структуры современной электроники |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.