Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/223237
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorДедович, Н. Н.-
dc.contributor.authorКузьминых, В. А.-
dc.contributor.authorЛазарчик, А. Н.-
dc.contributor.authorЛомако, В. М.-
dc.contributor.authorПранович, В. И.-
dc.contributor.authorРоманов, А. Ф.-
dc.date.accessioned2019-07-09T08:13:38Z-
dc.date.available2019-07-09T08:13:38Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. III Междунар. науч. конф., Минск, 25-26 сент. 2008 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск : БГУ, 2008. - С. 16-19ru
dc.identifier.isbn978-985-518-091-4-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/223237-
dc.description.abstractЕмкостные методы исследования электрических характеристик барьерных структур достаточно широко и результативно используются для измерения концентрации, энергии ионизации и сечения захвата носителей ловушками в полупроводниках. В данной работе кратко описан разработанный аппаратно-программный комплекс (в дальнейшем - емкостный спектрометр) для измерения статических и динамических вольт-емкостных характеристик барьерных полупроводниковых структур.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleЦифровой емкостный спектрометр СЕ-6ru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2008. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
16-19.pdf682,67 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.