Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/215215
Заглавие документа: First principles study of point defects in bulk and monolayer molybdenum disulfide
Авторы: Gusakova, J. V.
Gusakov, V. E.
Tay, B. K.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2018
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Материалы и структуры современной электроники : материалы VIII Междунар. науч. конф., Минск, 10–12 окт. 2018 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2018. – С. 137-141.
Аннотация: The study of formation and diffusion of point defects in bulk and monolayer MoS2 is presented. First the formation of a split Frenkel pair was calculated. The formation energy of the split Frenkel pair in monolayer MoS2 is 5.79 eV PZ LDA (5.58 eV PBE GGA) and in bulk MoS2 is 8.43 eV PZ LDA (8.14 eV PBE GGA). The calculated diffusion barrier of a single chalcogen vacancy (V S1) in both monolayer and bulk MoS2 equals to 0.21 eV. The study of electronic properties of V S1 and I S1 in monolayer shows that both defects introduce energy states into the band gap of MoS2 monolayer. The defect levels were calculated using GVJ-2e method and equals to 1.84 eV for V S1 and 1.80 eV for I S1, from the v-band maximum.
Доп. сведения: Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/215215
ISBN: 978-985-566-671-5
Располагается в коллекциях:2018. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
137-141.pdf383,54 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.