Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/215215
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorGusakova, J. V.
dc.contributor.authorGusakov, V. E.
dc.contributor.authorTay, B. K.
dc.date.accessioned2019-02-21T13:28:16Z-
dc.date.available2019-02-21T13:28:16Z-
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : материалы VIII Междунар. науч. конф., Минск, 10–12 окт. 2018 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2018. – С. 137-141.
dc.identifier.isbn978-985-566-671-5
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/215215-
dc.descriptionДефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
dc.description.abstractThe study of formation and diffusion of point defects in bulk and monolayer MoS2 is presented. First the formation of a split Frenkel pair was calculated. The formation energy of the split Frenkel pair in monolayer MoS2 is 5.79 eV PZ LDA (5.58 eV PBE GGA) and in bulk MoS2 is 8.43 eV PZ LDA (8.14 eV PBE GGA). The calculated diffusion barrier of a single chalcogen vacancy (V S1) in both monolayer and bulk MoS2 equals to 0.21 eV. The study of electronic properties of V S1 and I S1 in monolayer shows that both defects introduce energy states into the band gap of MoS2 monolayer. The defect levels were calculated using GVJ-2e method and equals to 1.84 eV for V S1 and 1.80 eV for I S1, from the v-band maximum.
dc.language.isoen
dc.publisherМинск : БГУ
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleFirst principles study of point defects in bulk and monolayer molybdenum disulfide
dc.typeconference paper
Располагается в коллекциях:2018. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
137-141.pdf383,54 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.