Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/215210
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorТашлыкова-Бушкевич, И. И.
dc.contributor.authorЯковенко, Ю. С.
dc.contributor.authorБушкевич, И. А.
dc.contributor.authorГагуа, Д. Р.
dc.contributor.authorЦаль, А. С.
dc.date.accessioned2019-02-21T13:28:15Z-
dc.date.available2019-02-21T13:28:15Z-
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : материалы VIII Междунар. науч. конф., Минск, 10–12 окт. 2018 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2018. – С. 117-122.
dc.identifier.isbn978-985-566-671-5
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/215210-
dc.descriptionСвойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе
dc.description.abstractМетодами растровой электронной микроскопии (РЭМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) исследовано влияние условий ионно-ассистированного осаждения на микроструктуру поверхности тонких металлических пленок из молибдена на стеклянные подложки. Получено, что при пассивном нанесении Mo с увеличением времени осаждения покрытия с 3 до 9 ч шероховатость поверхности увеличивается от 1,05 до 1,66 нм и уменьшается при приложении потенциала, снижаясь до 0,33 нм при осаждении в течение 5 ч при U = 10 кВ. Установлена корреляция характера изменения шероховатости пленок и среднего диаметра, объемной доли и удельной поверхности границ частиц микрокапельной фракции в зависимости от режима и времени нанесения покрытий. Построение гистограмм распределения высот и впадин рельефа поверхности позволило провести количественный анализ изменения микроморфологии пленок в процессе их роста.
dc.description.sponsorshipРабота финансировалась в рамках ГПНИ на 2016–2020 г. «Физическое материаловедение, новые материалы и технологии» (подпрограмма «Материаловедение и технологии материалов», задание 1.40, № ГР 20161123). Авторы благодарны О. Г. Бобровичу (БГТУ) и О. М. Михалковичу (БГПУ) за помощь при получении образцов методом ОПАСИ и проведении АСМ измерений.
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleЗакономерности формирования тонких металлических пленок на стекле при ионно-ассистированном осаждении
dc.title.alternativeRegularities of formation of thin metal films on glass substrate upon ion-assisted deposition / I. I. Tashlykova-Bushkevich, Yu. S. Yakovenko, I. А. Bushkevich, D. R. Gagua, A. S. Tsal
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeThe effect of ion beam assisted deposition conditions on the surface microstructure of thin metal films of molybdenum on glass substrates was studied by scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM). For Mo deposition without ions, it was found that the surface roughness increases from 1.05 to 1.66 nm with increasing deposition time from 3 to 9 h and decreases to 0.33 nm upon ion-assisted deposition using Mo ions for 5 hours at U = 10 kV. A correlation between the changes in the film roughness and the average diameter, volume fraction, and specific surface area of boundaries of microdropletsis established depending on operating conditions and deposition time. Plotting of surface height/cavity histograms allowed performing a quantitative analysis of micromorphology changes during the growth of films.
Располагается в коллекциях:2018. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
117-122.pdf779,78 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.