Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/204494
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Углов, В. В. | - |
dc.contributor.author | Черенда, Н. Н. | - |
dc.contributor.author | Данилюк, А. Л. | - |
dc.contributor.author | Ходасевич, В. В. | - |
dc.date.accessioned | 2018-08-28T11:47:34Z | - |
dc.date.available | 2018-08-28T11:47:34Z | - |
dc.date.issued | 1999 | - |
dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом: Материалы III междунар. науч. конф., 6-8 окт. 1999 г., Минск: В 2 ч. Ч.1. — Мн.: БГУ, 1999. — С. 163-165. | ru |
dc.identifier.isbn | 985-445-236-0 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/204494 | - |
dc.description.abstract | В данной работе с помощью Оже-электронной спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии было исследовано распределение элементов по глубине, а также был проведен анализ химических связей в поверхностном слое алюминия, последовательно имплантированном ионами углерода и азота. Энергия ионов при имплантации составляла 40 кэВ, дозы имплантации - 5.0-1017С7см2 и 6.5-1 017N+/ cm 2. Проведенные исследования позволили установить присутствие в имплантированном слое нитрида алюминия, карбида алюминия, карбида алюминия, обогащенного углеродом, а также структур с sp1 C-N связью и различного типа C-C связями. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Анализ химических связей в алюминии, последовательно имплантированном ионами углерода и азота | ru |
dc.title.alternative | Chemical bonds analysis in aluminium successively implanted by carbon and nitrogen ions / V. V. Uglov, N. N. Cherenda, A. L. Danilyuk, V. V. Khodasevich | ru |
dc.type | conference paper | ru |
dc.description.alternative | Chemical bonds analysis and investigation of elements distribution along the depth in surface aluminium layer successively implanted by carbon and nitrogen ions were carried out in this work by means of X-ray photoelectron spectroscopy and Auger-electron spectroscopy. Implanted ions energy was 40 keV, doses were amounted to 5.01 O17CV cm 2 and 6.5 IO17NV cm 2 The findings allowed to determine the presence of aluminium nitride, aluminium carbide, carbon enriched aluminium carbide and structures based on sp1 C-N bond and different types of C-C bond. | ru |
Располагается в коллекциях: | 1999. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
163-165.pdf | 289,17 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.