Logo BSU

  1. Электронная библиотека БГУ
  2. Физический факультет
  3. НАУЧНЫЕ ПУБЛИКАЦИИ ФИЗИЧЕСКОГО ФАКУЛЬТЕТА
  4. Сборники научных статей и материалы конференций физического факультета
  5. Взаимодействие излучений с твердым телом
  6. 2001. Взаимодействие излучений с твердым телом
Даты публикации Авторы Заглавия Темы
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/204300
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЛиопо, В. А.-
dc.contributor.authorСабуть, А. В.-
dc.contributor.authorСемиколенова, Н. А.-
dc.contributor.authorШелег, А. У.-
dc.date.accessioned2018-08-27T10:54:17Z-
dc.date.available2018-08-27T10:54:17Z-
dc.date.issued2001-
dc.identifier.citationВзаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 170-172ru
dc.identifier.isbn985-445-236-0-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/204300-
dc.description.abstractМетодом рентгеновской дифрактометрии исследованы структурные особенности полупроводниковых кристаллов TIGaSe2 и TllnSSe, а также кристаллы GaAs:Te с различной концентрацией дефектов. Установлено, что структурная дефектность кристаллов может быть оценена количественно по распределению отклонений cl(hkl) и l(hkl) (межплоскостных расстояний и интенсивностей рефлнксов соответственно) от их идеальных значений. Методом АСМ установлены основные типы динамических процессов на свежеобразованных кристаллических поверхностях.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleИзучение структурных особенностей полупроводниковых кристаллов после их гамма-облученияru
dc.title.alternativeStudying structural features of semiconductor crystals after y-radiation action / V.A.Liopo, A.V.Sabutz, N.A.Semikolenova, A.U.Shelegru
dc.typeconference paperru
dc.description.alternativeThe structural features of TIGaSe2, TllnSSe and GaAsTe semiconductor crystals were investigated by x-ray diffractometer method. The crystals have different defect concentrations. It was founded that crystal defects can be estimated by distribution of between experimental and theoretical values of d(hkl) and l(hkl). (interplace distances and x-ray reflexes intensities accordingly). The three types of dynamical processes on juvenile crystal surfaces are studied.ru
Располагается в коллекциях:2001. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
170-172.pdf722,11 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.