Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/203748| Title: | Методы ACM и КР в исследовании треков тяжелых ионов на поверхности полимеров |
| Other Titles: | Investigation of swift heavy ions tracks at the polymer surface by AFM and RAMAN methods / D. Zagorski, A. Vilensky, N. Mel'nik, B. Mchedlishvili |
| Authors: | Загорский, Д. Л. Виленский, А. И. Мельник, Н. Н. Мчедлишвили, Б. В. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2001 |
| Publisher: | Минск : БГУ |
| Citation: | Взаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 20-21. |
| Abstract: | В работе изучены полимерные пленки из полиэтилентерефталата (ПЭТФ) и полиимида (ПИ) после облучения ионами Хе (350 МеВ) и Ві (700 МеВ) на ускорителе У-400 (Дубна). Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ Solver Р-1 47, резонансный-режим) были обнаружены треки на поверхности: треки имели вид ямок с диаметром от 7 до 20 нм (в зависимости от характера облучения). Метод спектроскопии комбинационного рассеяния показал наличие графитных нано-размерных частиц в области трека. Последующее травление позволило оценить область графитизации, которая составляет 30 нм . |
| Abstract (in another language): | Two types of polymer films (PET and PI) were Investigated after swift ions (Xe, 350 MeV and Bi, 700 MeV; U-400, Dubna) irradiation. Initial tracks in the form of cavities (diameters from 7 to 20 nm) were found at samples surface using AFM technique (tapping- regime of Solver P-47, NT-MDT, Russia). Raman spectroscopy of these samples demonstrated the presence of graphite particles of nano-size. The area of graphitization was estimated by chemical etching as 30 nm. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/203748 |
| ISBN: | 985-445-236-0 |
| Appears in Collections: | 2001. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.