Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/203748
Title: Методы ACM и КР в исследовании треков тяжелых ионов на поверхности полимеров
Other Titles: Investigation of swift heavy ions tracks at the polymer surface by AFM and RAMAN methods / D. Zagorski, A. Vilensky, N. Mel'nik, B. Mchedlishvili
Authors: Загорский, Д. Л.
Виленский, А. И.
Мельник, Н. Н.
Мчедлишвили, Б. В.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2001
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Взаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 20-21.
Abstract: В работе изучены полимерные пленки из полиэтилентерефталата (ПЭТФ) и полиимида (ПИ) после облучения ионами Хе (350 МеВ) и Ві (700 МеВ) на ускорителе У-400 (Дубна). Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ Solver Р-1 47, резонансный-режим) были обнаружены треки на поверхности: треки имели вид ямок с диаметром от 7 до 20 нм (в зависимости от характера облучения). Метод спектроскопии комбинационного рассеяния показал наличие графитных нано-размерных частиц в области трека. Последующее травление позволило оценить область графитизации, которая составляет 30 нм .
Abstract (in another language): Two types of polymer films (PET and PI) were Investigated after swift ions (Xe, 350 MeV and Bi, 700 MeV; U-400, Dubna) irradiation. Initial tracks in the form of cavities (diameters from 7 to 20 nm) were found at samples surface using AFM technique (tapping- regime of Solver P-47, NT-MDT, Russia). Raman spectroscopy of these samples demonstrated the presence of graphite particles of nano-size. The area of graphitization was estimated by chemical etching as 30 nm.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/203748
ISBN: 985-445-236-0
Appears in Collections:2001. Взаимодействие излучений с твердым телом

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
20-21.pdf476,09 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.