Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/203748Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Загорский, Д. Л. | - |
| dc.contributor.author | Виленский, А. И. | - |
| dc.contributor.author | Мельник, Н. Н. | - |
| dc.contributor.author | Мчедлишвили, Б. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-08-21T09:13:08Z | - |
| dc.date.available | 2018-08-21T09:13:08Z | - |
| dc.date.issued | 2001 | - |
| dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом: материалы IV Междунар. науч. конф., 3-5 окт. 2001 г., Минск. — Мн.: БГУ, 2001. — С. 20-21. | ru |
| dc.identifier.isbn | 985-445-236-0 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/203748 | - |
| dc.description.abstract | В работе изучены полимерные пленки из полиэтилентерефталата (ПЭТФ) и полиимида (ПИ) после облучения ионами Хе (350 МеВ) и Ві (700 МеВ) на ускорителе У-400 (Дубна). Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ Solver Р-1 47, резонансный-режим) были обнаружены треки на поверхности: треки имели вид ямок с диаметром от 7 до 20 нм (в зависимости от характера облучения). Метод спектроскопии комбинационного рассеяния показал наличие графитных нано-размерных частиц в области трека. Последующее травление позволило оценить область графитизации, которая составляет 30 нм . | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Методы ACM и КР в исследовании треков тяжелых ионов на поверхности полимеров | ru |
| dc.title.alternative | Investigation of swift heavy ions tracks at the polymer surface by AFM and RAMAN methods / D. Zagorski, A. Vilensky, N. Mel'nik, B. Mchedlishvili | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| dc.description.alternative | Two types of polymer films (PET and PI) were Investigated after swift ions (Xe, 350 MeV and Bi, 700 MeV; U-400, Dubna) irradiation. Initial tracks in the form of cavities (diameters from 7 to 20 nm) were found at samples surface using AFM technique (tapping- regime of Solver P-47, NT-MDT, Russia). Raman spectroscopy of these samples demonstrated the presence of graphite particles of nano-size. The area of graphitization was estimated by chemical etching as 30 nm. | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2001. Взаимодействие излучений с твердым телом | |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.