Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/195642
Заглавие документа: Прочностные свойства нейтронно-облученных эпитаксиальных пленок CdTe
Другое заглавие: Solidity properties of neutron-irradiated CdTe epitaxial films / A. T. Akobirova, D. I. Brinkevich, S. A. Vabishchevich, N. V. Vabishchevich, V. I. Halauchyk, M. G. Lukashevich, B. I. Mahsudov
Авторы: Акобирова, А. Т.
Бринкевич, Д. И.
Вабищевич, С. А.
Вабищевич, Н. В.
Головчук, В. И.
Лукашевич, М. Г.
Махсудов, Б. И.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2018
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Журнал Белорусского государственного университета. Физика = Journal of the Belarusian State University. Physics. - 2018. - № 1. - С. 73-79
Аннотация: Методами индентирования и склерометрии исследованы прочностные свойства (микротвердость, трещиностойкость, эффективная энергия разрушения, микрохрупкость) эпитаксиальных пленок теллурида кадмия, выращенных на подложках из теллурида кадмия CdTe/CdTe и кремния CdTe/Si, и влияние на них облучения тепловыми нейтронами. Показано, что рост микротвердости пленок при увеличении нагрузки обусловлен влиянием деформаций растяжения. Прочностные параметры (микротвердость Н, трещиностойкость K1c, эффективная энергия разрушения g) пленок CdTe/CdTe близки к аналогичным параметрам монокристаллического теллурида кадмия, а K1c и g пленок CdTe/Si были в 3–8 раз ниже. Микротвердость пленок, выращенных на кремниевых подложках, возрастает при увеличении дозы тепловых нейтронов, а у пленок CdTe/CdTe, наоборот, снижается. Облучение нейтронами приводит также к увеличению до 2 раз трещиностойкости пленок CdTe/Si. Это обусловлено релаксацией упругих напряжений в приповерхностной области пленки при облучении нейтронами и формированием вторичных радиационных дефектов.
Аннотация (на другом языке): Investigations of solidity properties (microhardness, chapresist, distruction effective energy, microfragility) of CdTe thin films prepared on CdTe substrate CdTe/CdTe and silicon substrate CdTe/Si and influence of neutron-irradiation on these parameters have been carried out by means of indention and sclerometry methods. It was shown that microhardness increases with strength increasing because of strain deformation. Solidity properties of CdTe/CdTe films close to the bulk substrate, while K1c and g for CdTe/Si films 3–8 times lower. It was observed that microhardness of CdTe/Si films increases with neutron doze increasing, while for CdTe/Si films – decreases.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/195642
ISSN: 2520-2243
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:2018, №1

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
73-79.pdf501 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.