Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/189346
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Stanchik, A. V. | - |
dc.contributor.author | Gremenok, V. F. | - |
dc.contributor.author | Bashkirov, S. A. | - |
dc.contributor.author | Tivanov, M. S. | - |
dc.contributor.author | Juškėnas, R. L. | - |
dc.contributor.author | Novikov, G. F. | - |
dc.contributor.author | Giraitis, R. | - |
dc.contributor.author | Saad, A. M. | - |
dc.date.accessioned | 2018-01-24T11:30:03Z | - |
dc.date.available | 2018-01-24T11:30:03Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.citation | Semiconductors. – 2018. – Volume 52, No 2 – Pages 215-220. | ru |
dc.identifier.issn | 1063-7826 Print | - |
dc.identifier.issn | 1090-6479 Online | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/189346 | - |
dc.description.abstract | Abstract—Cu2ZnSnSe4 thin films are produced by selenizing electrochemically layer-by-layer deposited and preliminarily annealed Cu–Zn–Sn precursors. For flexible metal substrates, Mo and Ta foils are used. The morphology, elemental and phase compositions, and crystal structure of Cu2ZnSnSe4 films are studied by scanning electron microscopy, X-ray spectral microanalysis, X-ray phase analysis, and Raman spectroscopy. | ru |
dc.language.iso | en | ru |
dc.publisher | Institute of Physics Publishing | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Microstructure and Raman scattering of Cu2ZnSnSe4 thin films deposited onto flexible metal substrates | ru |
dc.type | article | ru |
Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Stanchik_2018.pdf | 2,39 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.