Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/18895| Title: | Методы анализа элементного состава поверхностных слоев |
| Authors: | Углов, Владимир Васильевич Черенда, Николай Николаевич Анищик, Виктор Михайлович |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2007 |
| Publisher: | БГУ |
| Abstract: | Изложены современные методы анализа элементного состава материалов, основанные на взаимодействии электронов, ионов и фотонов с поверхностью, приведена классификация методов анализа поверхности. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы и наиболее важные закономерности, лежащие в их основе, а также влияние параметров зондирующего пучка на результаты анализа. Пособие предназначено для студентов физического факультета и факультета радиофизики и электроники БГУ. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/18895 |
| ISBN: | 978-985-485-813-5 |
| Appears in Collections: | Учебники и другие пособия физического факультета |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Element analysis.pdf | 3,84 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.