Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/18895Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Углов, Владимир Васильевич | - |
| dc.contributor.author | Черенда, Николай Николаевич | - |
| dc.contributor.author | Анищик, Виктор Михайлович | - |
| dc.date.accessioned | 2012-10-19T11:50:37Z | - |
| dc.date.available | 2012-10-19T11:50:37Z | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.isbn | 978-985-485-813-5 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/18895 | - |
| dc.description.abstract | Изложены современные методы анализа элементного состава материалов, основанные на взаимодействии электронов, ионов и фотонов с поверхностью, приведена классификация методов анализа поверхности. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы и наиболее важные закономерности, лежащие в их основе, а также влияние параметров зондирующего пучка на результаты анализа. Пособие предназначено для студентов физического факультета и факультета радиофизики и электроники БГУ. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БГУ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Методы анализа элементного состава поверхностных слоев : пособие для студентов спец. 1-31 04 01 «Физика (по направлениям)» и 1-31 04 02 «Радиофизика» / В. В. Углов, Н. Н. Черенда, В. М. Анищик | ru |
| dc.type | book | ru |
| Располагается в коллекциях: | Учебники и другие пособия физического факультета | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Element analysis.pdf | 3,84 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.