Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/173703Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Юхневич, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Шуваев, Л. Е. | - |
| dc.contributor.author | Артемьева, С. В. | - |
| dc.contributor.author | Вечер, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-06-09T07:29:20Z | - |
| dc.date.available | 2017-06-09T07:29:20Z | - |
| dc.date.issued | 1983 | - |
| dc.identifier.citation | Электронная техника. Серия : Материалы. - 1983. - Вып. 3 (176). - С. 63-65. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/173703 | - |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | - |
| dc.title | Кристаллографические особенности химического выявления дефектов в монокристаллах кремния | ru |
| dc.type | journal article | ru |
| Appears in Collections: | Статьи сотрудников НИИ ФХП | |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

