Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/165780
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorШерстнёв, А. И.-
dc.contributor.authorЧубенко, Е. Б.-
dc.contributor.authorБондаренко, В. П.-
dc.date.accessioned2017-01-19T17:47:39Z-
dc.date.available2017-01-19T17:47:39Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С. 306–310.ru
dc.identifier.isbn978-985-553-403-8-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/165780-
dc.description.abstractВ работе исследовалось влияния высокотемпературного отжига на свойства тонких пленок оксида цинка, легированного атомами переходных металлов.ru
dc.description.sponsorshipБелорусский республиканский фонд фундаментальных исследований. Работа выполнялась в рамках задания 1.15 ГПНИ Республики Беларусь «Физическое материаловедение, новые материалы и технологии» и задания 2.1.02 ГПНИ Республики Беларусь «Фотоника, опто- и микроэлектроника».ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск : Изд. центр БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleВлияние высокотемпературного отжига на свойства тонких пленок оксида цинка, легированного атомами переходных металловru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2016. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
С.306-310_Шерстнёв.pdf1,01 MBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.