Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/164191
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Медведева, И. Ф. | - |
dc.contributor.author | Мурин, Л. И. | - |
dc.contributor.author | Маркевич, В. П. | - |
dc.contributor.author | Гуринович, В. А. | - |
dc.date.accessioned | 2016-12-29T15:39:39Z | - |
dc.date.available | 2016-12-29T15:39:39Z | - |
dc.date.issued | 2016 | - |
dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : сб. науч. тр. VII Междунар. науч. конф., посвящ. 50-летию каф. физики полупроводников и наноэлектроники, Минск, 12–13 окт. 2016 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2016. — С. 165–168. | ru |
dc.identifier.isbn | 978-985-553-403-8 | - |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/164191 | - |
dc.description.abstract | Методом эффекта Холла исследована эффективность образования радиационных дефектов в кристаллах n-Si (NP = 2*10^12—2*10^15 cм^-3) при облучении γ-квантами 60Со в интервале температур 77—470 К. Установлено, что при начальных дозах облучения n-Si практически все вакансии и междоузельные атомы кремния образуют электрически активные комплексы с примесями. Эффективность образования этих дефектов (А-, Е-центров, углеродосодержащих комплексов) определяется вероятностью разделения близких пар Френкеля и наиболее существенно зависит от положения уровня Ферми в облучаемых кристаллах. | ru |
dc.description.sponsorship | Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : Изд. центр БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Основные закономерности влияния температуры облучения и положения уровня Ферми на эффективность образования радиационных дефектов в кремнии n-типа | ru |
dc.type | conference paper | ru |
Располагается в коллекциях: | 2016. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
С.165-168_Медведева.pdf | 407,83 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.