Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/14577
Заглавие документа: Anomalous scattering method in crystallography on the basis of parametric X-radiation
Авторы: Feranchuk, Ilya D.
Ulyanenkov, A.
Дата публикации: 2005
Издатель: International Union of Crystallography
Библиографическое описание источника: Acta Cryst. A. 61 (2005) 125-133
Аннотация: Spectra of parametric X-radiation (PXR) in the range of anomalous dispersion of atoms of a crystallographic unit cell are theoretically analyzed. Characteristics of PXR are calculated for both ultrarelativistic (E>=50 MeV) and nonrelativistic (E~=100 keV) electrons interacting with complex organic crystals. The analysis of the PXR angular distribution is shown to permit the realization of the anomalous scattering method for the direct measurement of structure amplitude phases.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/14577
Располагается в коллекциях:Кафедра теоретической физики и астрофизики (статьи)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
anomalpaper.pdf455,08 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.