Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/117101Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Нечепуренко, Юрий Васильевич | - |
| dc.contributor.author | Свиридов, Вадим Васильевич | - |
| dc.contributor.author | Соколов, Валерий Георгиевич | - |
| dc.date.accessioned | 2015-07-21T10:08:15Z | - |
| dc.date.available | 2015-07-21T10:08:15Z | - |
| dc.date.issued | 1986 | - |
| dc.identifier.citation | Журнал научной и прикладной фотографии и кинематографии. УДК 771.535.1. 1986. Т.31. №6. С.444-450. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/117101 | - |
| dc.description.abstract | Изучены закономерности регрессии скрытого изображения (СИ) в фотографических слоях на основе пленок ТiO2, не модифицированных ионами благородных металлов. Кинетические кривые регрессии СИ имеют сложный вид, что обусловлено протеканием двух процессов: разрушением СИ продуктами фотохимических реакций, образованными при участии фотодырок, и окислительными процессами с участием компонентов окружающей среды, прежде всего кислорода и влаги. Определе- на энергия активации процесса разрушения СИ в интервале температур 20—70°, которая в зависимости от влагосодержания имеет значения 48,1-77,0 кДж/моль. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Академия наук СССР | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия | ru |
| dc.title | Регрессионные процессы в пленочных TiO2-фотослоях | ru |
| dc.type | Article | ru |
| Располагается в коллекциях: | Статьи сотрудников НИИ ФХП | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Пленочные TiO2 фотослои.pdf | 400,66 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.