Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/108009
Title: | Модификация приповерхностных слоев имплантированных монокристаллов кремния |
Authors: | Вабищевич, С. А. Вабищевич, Н. В. Бринкевич, Д. И. Просолович, В. С. Русакевич, Д. А. Янковский, Ю. Н. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Issue Date: | 2014 |
Publisher: | Издательский центр БГУ |
Citation: | Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. VI Междунар. науч. конф., Минск, 8-9 окт. 2014 г. / редкол.: В.Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск: Изд. центр БГУ, 2014. - С. |
Abstract: | Исследовалось влияние радиационных дефектов, созданных имплантацией, на свойства приповерхностной (рабочей) области пластин монокристаллического кремния. Полированные пластины кремния марки КЭФ 4,5(100), КДБ 12(100) и КДБ 10(111) толщиной 460 ± 20 мкм имплантировались ионами B+ (Е= 500 кэВ) и Р+ (Е= 1000 кэВ) дозами от 5Е12 до 5Е14 см-2 при комнатной температуре на ускорителе ионов DTL. В процессе имплантации наблюдалось приповерхностное упрочнение монокристаллов: микротвердость снижалась при увеличении нагрузки и выходила на стационарное значение при Р свыше 100 г. Увеличение дозы имплантации в пределах до 5Е13 см-2 приводило к росту микротвердости приповерхностного слоя, т.е. к увеличению эффекта приповерхностного упрочнения. |
URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/108009 |
ISBN: | 978-985-553-234-8 |
Sponsorship: | Белорусский Республиканский Фонд Фундаментальных Исследований |
Appears in Collections: | 2014. Материалы и структуры современной электроники |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
p.109-112.pdf | 247,72 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.