Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/50736Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Bentarzi, H. | - |
| dc.contributor.author | Dehmas, M. | - |
| dc.contributor.author | Zitouni, A. | - |
| dc.date.accessioned | 2013-11-05T06:24:18Z | - |
| dc.date.available | 2013-11-05T06:24:18Z | - |
| dc.date.issued | 2004 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/50736 | - |
| dc.description.abstract | In this paper, the potential profile that is based on the numerical solution of the Poisson's equation can be used to determine the breakdown voltage of any MOS structures. To validate this work, a comparison between an experimental breakdown voltage and a calculated one. One of the important applications of this method is to make optimum designs to meet predetermined breakdown voltages. | ru |
| dc.language.iso | en | ru |
| dc.publisher | Минск: БГУ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатика | ru |
| dc.title | A Breakdown Voltage Extraction Technique Using Numerical Modeling In Mos Structures | ru |
| dc.type | Article | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2004. Международная конференция “Моделирование процессов и систем” | |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.