Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/23929
Заглавие документа: | reevaluation of energy levels of oxygen-vacancy complex in silicon crystals: 1. weak compensation |
Авторы: | Makarenko, Leonid F |
Дата публикации: | 2001 |
Издатель: | iop science |
Библиографическое описание источника: | Semiconductor Science and Technology, v. 16, no 7, p. 619 |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/23929 |
ISSN: | 0268-1242 |
Располагается в коллекциях: | Математическое моделирование |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
5_2001_sst-pap.pdf | 181,7 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.