Просмотр "НИУ "Институт прикладных физических проблем им. А. Н. Севченко"" Авторы Yuvchenko, V. N.
Результаты 4 - 4 из 4
< предыдущий
Предварительный просмотр | Дата выпуска | Заглавие | Автор(ы) |
---|---|---|---|
2014 | Threshold and criterion for ion track etching in SiO2layers grown on Si | Vlasukova, L. A.; Komarov, F. F.; Yuvchenko, V. N.; Wesch, W.; Wendler, E.; Didyk, A. Yu.; Skuratov, V. A.; Kislitsin, S. B. |