Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/120170
Заглавие документа: | АНАЛИЗ МЕТОДОМ ФРАКТАЛЬНОЙ ПАРАМЕТРИЗАЦИИ ЭВОЛЮЦИИ ГЕОМЕТРИИ ДОМЕННЫХ СТРУКТУР СЕГНЕТОЭЛЕКТРИКОВ ПРИ ЭЛЕКТРОННОМ ОБЛУЧЕНИИ |
Авторы: | Барабаш, Т. К. Масловская, А. Г. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 2015 |
Аннотация: | В работе представлены результаты фрактального анализа модификации геометрии доменной структуры сегнетоэлектрических кристаллов при наблюдении с помощью растрового электронного микроскопа (РЭМ). Приведены оценки фрактальных характеристик геометрии доменных конфигураций, визуализируемых в режимах статического и динамического контраста РЭМ. Показано, что фрактальные методы являются чувствительным средством анализа степени несовершенств доменных структур и доменных границ и могут быть использованы для количественной характеристики наблюдаемых модификаций при исследовании сегнетоэлектриков в РЭМ. Установлено, что эффект эрозии доменной границы сегнетоэлектрика, индуцированной электронным облучением в режиме токов электронно-стимулированной поляризации, характеризуется значительным увеличением фрактальной размерности. В режимах динамического контраста было отмечено, что усложнение доменной структуры в процессе ее динамики характеризуется увеличением значения фрактальной размерности изображения и незначительным увеличением фрактальной размерности границ. |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/120170 |
Располагается в коллекциях: | 2015. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Барабаш Масловская.pdf | 461,55 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.