Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/92907
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСтепанов, А. В.-
dc.contributor.authorИванюк, А. А.-
dc.date.accessioned2014-04-01T10:40:22Z-
dc.date.available2014-04-01T10:40:22Z-
dc.date.issued2009-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/92907-
dc.description.abstractВ данной работе предложен новый подход к моделированию функциональных неисправностей ОЗУ. Спроектирована детализированная VHDL-модель бит-ориентированного статического ОЗУ. Разработанная модель позволяет оценить поведение цифрового устройства при наличии в нем дефектов, исследовать природу неисправностей ОЗУ, а также может быть применена для верификации алгоритмов тестирования ОЗУ.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск: А.Н. Вараксинru
dc.subjectЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатикаru
dc.titleПрограммное средство моделирования функциональных неисправностей встроенных ОЗУru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:ПРОЕКТИРОВАНИЕ ВСТРОЕННЫХ СИСТЕМ

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
78.pdf95,19 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.