Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/92907
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСтепанов, А. В.-
dc.contributor.authorИванюк, А. А.-
dc.date.accessioned2014-04-01T10:40:22Z-
dc.date.available2014-04-01T10:40:22Z-
dc.date.issued2009-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/92907-
dc.description.abstractВ данной работе предложен новый подход к моделированию функциональных неисправностей ОЗУ. Спроектирована детализированная VHDL-модель бит-ориентированного статического ОЗУ. Разработанная модель позволяет оценить поведение цифрового устройства при наличии в нем дефектов, исследовать природу неисправностей ОЗУ, а также может быть применена для верификации алгоритмов тестирования ОЗУ.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск: А.Н. Вараксинru
dc.subjectЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатикаru
dc.titleПрограммное средство моделирования функциональных неисправностей встроенных ОЗУru
dc.typeconference paperru
Appears in Collections:ПРОЕКТИРОВАНИЕ ВСТРОЕННЫХ СИСТЕМ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
78.pdf95,19 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.