Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/89453
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСотский, А. Б.-
dc.contributor.authorSteingart, L. M.-
dc.contributor.authorПарашков, С. О.-
dc.contributor.authorСотская, Л. И.-
dc.date.accessioned2014-01-24T07:04:02Z-
dc.date.available2014-01-24T07:04:02Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationКвантовая электроника: Материалы IX Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 18–21 нояб. 2013 г. – Минск, 2013. - С. 146-147.ru
dc.identifier.isbn978-985-553-157-0-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/89453-
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск: Изд. центр БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleО выборе углового диапазона измерений при исследовании тонких пленок с помощью призмы связиru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2013. Квантовая электроника

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
146-147.pdf598,38 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.