Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/88700
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСтаськов, Н. И.-
dc.contributor.authorИвашкевич, И. В.-
dc.date.accessioned2014-01-16T10:57:56Z-
dc.date.available2014-01-16T10:57:56Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationКвантовая электроника: Материалы IX Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 18–21 нояб. 2013 г. – Минск, 2013. - С. 40-41.ru
dc.identifier.isbn978-985-553-157-0-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/88700-
dc.language.isoruru
dc.publisherМинск: Изд. центр БГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleОб аналитическом определении параметров слоя и подложки методом огибающих интерференционных экстремумовru
dc.typeconference paperru
Располагается в коллекциях:2013. Квантовая электроника

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
40-41.pdf723,46 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.