Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/7671
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКозлова, Е. И.-
dc.date.accessioned2012-05-02T11:25:12Z-
dc.date.available2012-05-02T11:25:12Z-
dc.date.issued2012-05-02-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/7671-
dc.descriptionКонспект лекций дополнен презентациями и экзаменационными вопросами-
dc.description.abstractПознание человеком окружающего мира неразрывно связано с наблюдениями и экспериментами. Получение информации в процессе наблюдения и экспериментов базируется на измерениях. На протяжении всей истории развития науки и техники перед человеком возникало и возникает множество вопросов и проблем, для решения которых необходимо располагать количественной информацией о том или ином свойстве объектов материального мира (явлении, процессе, веществе, изделии, теле и др.). Основным способом получения такой информации являются измерения, при правильном выполнении которых находится результат измерения, с большей или меньшей точностью отражающий интересующие свойства объекта познания.ru
dc.language.isoruru
dc.subjectЭБ БГУ::МЕЖОТРАСЛЕВЫЕ ПРОБЛЕМЫ::Метрологияru
dc.titleМетрологическое обеспечение систем обработки информации : конспект лекций / Е. И. Козлова; БГУ, Факультет радиофизики и компьютерных технологийru
dc.typelecture-
Appears in Collections:Кафедра интеллектуальных систем (пособия)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
лк1-2.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем115,5 kBMicrosoft WordView/Open
лк2-3.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем68,5 kBMicrosoft WordView/Open
для лк3.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем38 kBMicrosoft WordView/Open
для лк4.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем38 kBMicrosoft WordView/Open
для лк6.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем501,5 kBMicrosoft WordView/Open
ЛК5.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем271 kBMicrosoft WordView/Open
Л7.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем307,5 kBMicrosoft WordView/Open
лк8.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем41,5 kBMicrosoft WordView/Open
для лк9-10.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем98 kBMicrosoft WordView/Open
лк10-11.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем816,5 kBMicrosoft WordView/Open
лк12.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем45 kBMicrosoft WordView/Open
лк13.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем1,64 MBMicrosoft WordView/Open
лк14.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем76,5 kBMicrosoft WordView/Open
лк15.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем327,5 kBMicrosoft WordView/Open
лк16.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем180,5 kBMicrosoft WordView/Open
для лк3.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем38 kBMicrosoft WordView/Open
для лк9.docМетрология, стандартизация и сертификация электронных систем639,5 kBMicrosoft WordView/Open
Конспект лекций 1-7.pdfКонспект лекций 1-7877,24 kBAdobe PDFView/Open
Конспект лекций 8_.pdfКонспект лекций 8333,81 kBAdobe PDFView/Open
Kozlova_100.pdfМетрологическое обеспечение систем обработки информации : конспект лекций / Е . И . Козлова .3,3 MBAdobe PDFView/Open
билеты Метрология ФЭ.rtfЭкзаменационные билеты (Метрология ФЭ)110,06 kBRTFView/Open
лк1-2_Метрологическое обеспечение систем обработки информации.pdfПрезентация к лекциям 1-21,71 MBAdobe PDFView/Open
лк3-4_метрологическое обеспечение.pdfМетрология. Основные определения : презентация к лекциям 3-4767,71 kBAdobe PDFView/Open
лк5-6_Измерения.pdfИзмерения : презентация к лекциям 5-6539,44 kBAdobe PDFView/Open
лк7-8_датчики.pdfДатчики : презентация к лекциям 7-8819,58 kBAdobe PDFView/Open
лк9-10_ДАТЧИКИ-Характеристики.pdfДатчики: классификация, характеристики, принципы работы : презентация к лекциям 9-102,71 MBAdobe PDFView/Open
лк11-12_Датчики присутствия.pdfДатчики присутствия и движения объектов : презентация к лекциям 11-12141,79 kBAdobe PDFView/Open
лк13-14_Датчики и интеллектуальные сенсоры.pdfДатчики и интеллектуальные сенсоры : презентация к лекциям 13-141,11 MBAdobe PDFView/Open
лк15-16_Разработка и стандартизация электронных систем.pdfРазработка и стандартизация электронных систем : презентация к лекциям 15-16235,53 kBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.