Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:


Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 21-29 из 29.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2019Электрические потери в имплантированных ионами ксенона структурах Al/SiO2 /n-SiГорбачук, Н. И.; Поклонский, Н. А.; Шпаковский, С. В.; Wieck, A.
2020Релятивистский электростатический потенциал вблизи углеродной нанотрубки со стационарным токомПоклонский, Н. А.; Галимский, И. А.; Вырко, С. А.; Власов, А. Т.; Хиеу, Н. Н.
2020Диэлектрические свойства стабилизированного иттрием диоксида цирконияАдамчук, Д. В.; Ксеневич, В, К.; Поклонский, Н. А.; Lyubchyk, A.; Macutkevic, J.; Banys, J.
2016Электрические потери в гетероструктурах Al/SiO2/n-Si, облученных ионами гелия с энергиями 5 МэВПоклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Во Куанг, Нья; Меркулов, В. А.; Кирикович, М. К.; Скуратов, В. А.; Kukharchyk, N.; Becker, H.-W.; Wieck, A.
2016Дифференциальная емкость полупроводникового диода с прыжковой проводимостью по радиационным дефектамПоклонский, Н. А.; Ковалев, А. И.; Вырко, С. А.; Власов, А.Т.
2016Электромагнитные отражатели на основе частотно-селективной поверхности для субметровых длин волнСягло, А. И.; Туан, Динь Ань; Кишкель, Н. В.; Широкий, Д. Н.; Поклонский, Н. А.
2018Чувствительность к влажности иттрий-стабилизированного диоксида цирконияLyubchyk, A.; Ксеневич, В. К.; Поклонский, Н. А.; Адамчук, Д. В.; Ковалев, А. И.
2018Емкость в режиме сильной инверсии структур Al/SiO2/n-Si, облученных ионами ксенонаПоклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.; Скуратов, В. А.; Wieck, A.
2015ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПОТЕРИ СТРУКТУР Al/SiO2/n-Si, ОБЛУЧЕННЫХ ЭЛЕКТРОНАМИ С ЭНЕРГИЕЙ 3.5 МэВПоклонский, Н. А.; Горбачук, Н. И.; Шпаковский, С. В.