Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/47571
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorПоклонский, Николай Александрович-
dc.date.accessioned2013-09-23T18:19:26Z-
dc.date.available2013-09-23T18:19:26Z-
dc.date.issued2009-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/47571-
dc.description.abstractПрограмма курса "Статистика электронов и дефектов в полупроводниковых материалах" разработана для специальности 1-31 04 01 Физика. Целью курса является обучение студентов основам статистической физики квазичастиц и точечных дефектов в полупроводниковых материалах. В курсе дается вывод основных статистических функций распределения. Рассматриваются равновесные свойства электронов, дырок в монокристаллических полупроводниках. Анализируется влияние магнитного и электрического полей на заполнение электронных состояний, а также статистика точечных атомных дефектов в кристаллической решетке и заполнение их энергетических уровней носителями заряда. Излагается статистический метод; рассматриваются равновесные свойства квазичастиц (электронов, дырок, фононов) в объемных образцах. Анализируется влияние магнитного и электрического полей на заполнение электронных состояний, а также статистика точечных дефектов в решетке и заполнение их энергетических уровней носителями заряда. рассматриваются также кинетические процессы с участием электронной и фононной подсистем кристалла. Разбираются вопросы миграции электронов по неподвижным точечным дефектам (примесям). Рассматривается роль точечных дефектов решетки в формировании термодинамических и кинетических свойств кристаллических твердых тел.ru
dc.language.isoruru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleСтатистика электронов и дефектов в полупроводниковых материалах : учебная программа для специальности 1-31 04 01 Физика (по направлениям) (1-31 04 01-01 научно-исследовательская деятельность) №УД-2048/баз.ru
dc.typesyllabusru
Располагается в коллекциях:Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники (архив)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Поклонский _01-17_УП_Статистика электронов и дефектов.pdf186,74 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.