Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/339838Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Иванов, И.А. | - |
| dc.contributor.author | Аманжулов, Б.С. | - |
| dc.contributor.author | Углов, В.В. | - |
| dc.contributor.author | Злоцкий, С.В. | - |
| dc.contributor.author | Темір, Ә.М. | - |
| dc.contributor.author | Унгарбаев, Е.О. | - |
| dc.contributor.author | Джин, Ке | - |
| dc.contributor.author | Рысқұлов, А.Е. | - |
| dc.date.accessioned | 2026-01-09T14:01:19Z | - |
| dc.date.available | 2026-01-09T14:01:19Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Вестник НЯЦ РК. –2025. –№ 4. –С.88-99. | ru |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/339838 | - |
| dc.description.abstract | В работе исследовались изменения морфологии и элементного состава сплавов на основе системы V-Nb-Ta-Ti после облучения ионами 84Kr15+ с энергией 147 МэВ и флюенсом ионов 1·1013–1·1015 см−2. Обнаружено, что облучение ионами криптона не привело к значительным повреждениям поверхности образцов V, VNb, VNbTa, VNbTaTi кроме образования тёмных пятен и сколов, размер и количество которых уменьшались от V к VNbTaTi. Анализ методом энергодисперсионной спектроскопии на растровом электронном микроскопе (РЭМ-ЭДС) показал, что состав всех исходных образцов был близким к эквиатомному. С усложнением состава от VNb к среднеэнтропийному сплаву (СЭС) VNbTa, радиационная сегрегация элементов в образцах увеличилась, но при этом уменьшилась в высокоэнтропийном сплаве (ВЭС) VNbTaTi. Наибольшее изменение концентраций было обнаружено в сплаве VNbTa, где концентрация Ta увеличилась на 18,5% (4,4 ат.% (атомных процентов)) по сравнению с необлученным образцом. Обнаружено, что в сплавах VNbTa и VNbTaTi сегрегация усиливалась с увеличением флюенса, а в VNb сегрегации достигла пика при 1·1014 см−2, а затем уменьшилась. С помощью анализа методом Резерфордовского обратного рассеяния (РОР) показано, что в образцах VNbTa и VNbTaTi, облученных ионами криптона с флюенсом 1·1013 см−2 концентрация атомов Ta увеличивалась с глубиной на 33–34% (8,6–12 ат.%) относительно исходной концентрации. Результаты анализа методами ЭДС и РОР показали схожие тенденции. Изменения концентраций элементов в приповерхностном слое VNb, VNbTa и VNbTaTi для тяжёлых элементов Nb, Ta превосходили таковые у лёгких. Различие в сегрегации элементов вероятно связано с разницей в искажении решётки, локальным химическим составом, разной зависимостью миграции атомов V, Nb, Ta, Ti от вакансий и междоузлий. Облучение ионами криптона привело к радиационной сегрегации в СЭС VNbTa и ВЭС VNbTaTi, но распределение элементов по поверхности образцов не образовало выраженных областей сегрегации. ВЭС VNbTaTi проявил большую устойчивость к радиационной сегрегации. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | НЯЦ РК | ru |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/closedAccess | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Радиационная стойкость сплавов на основе ванадия к сегрегации при облучении тяжелыми ионами криптона | ru |
| dc.type | article | ru |
| dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
| dc.identifier.DOI | 10.52676/1729-7885-2025-4-88-99 | - |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ СПЛАВОВ НА ОСНОВЕ ВАНАДИЯ К СЕГРЕГАЦИИ.pdf | 1,53 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.

