Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/339142| Заглавие документа: | Лабораторный спецпрактикум "Измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур": учебная программа УВО по учебной дисциплине для специальности 6-05-0533-02 Прикладная физика. Профилизация: Физика полупроводников и наноэлектроника. № УД-3648/б. |
| Авторы: | Лапчук, Наталья Михайловна Лапчук, Татьяна Михайловна Олешкевич, Анна Николаевна |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Дата публикации: | 27-июн-2025 |
| Издатель: | БГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники |
| Аннотация: | Цель данной учебной дисциплины заключается в практическом освоении студентами физических основ полупроводниковых приборов, работа которых основана на свойствах электронных структур металл-диэлектрик-полупроводник, гетероперехода, а также контакта металл-полупроводник, полупроводник-полупроводник. Учебная дисциплина также дает преставление об экспериментальных методах исследования и определения основных параметров полупроводниковых приборов и структур на базе учебно-научного оборудования лабораторного специального практикума и способствует овладению базовыми принципами расчета и анализа этих параметров по их вольтамперным, вольтфарадным и температурным характеристикам, полученным в процессе измерений. |
| Доп. сведения: | Дисциплина изучается в 6 семестре. Всего на изучение учебной дисциплины отведено: для очной формы получения высшего образования – 108 часов, в том числе 50 аудиторных часов, из них: лабораторные занятия – 50 часов. Трудоемкость учебной дисциплины составляет 3 зачетные единицы. Форма промежуточной аттестации – зачет. |
| URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/339142 |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Лаб.спецпрактикум Измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур_Прикл физ_ДП__6 семестр_Лапчук.pdf | 5,94 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.