Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/323457
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorПоклонский, Николай Александрович-
dc.contributor.authorЛукашевич, Михаил Григорьевич-
dc.date.accessioned2024-12-23T17:52:09Z-
dc.date.available2024-12-23T17:52:09Z-
dc.date.issued2024-07-15-
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/323457-
dc.descriptionДисциплина изучается в 7 семестре. Всего на изучение учебной дисциплины отведено: для очной формы получения высшего образования - 200 часов, в том числе 100 аудиторных часов, из них: лекции - 44 часа, семинарские занятия - 44 часа, управляемая самостоятельная работа - 12 часов. Трудоемкость учебной дисциплины составляет 6 зачетных единиц. Форма промежуточной аттестации - экзамен.ru
dc.description.abstractЦель учебной дисциплины - формирование у студентов целостных представлений о динамических и статистических характеристиках электронов в полупроводниках, которые представляются базовыми для изучения физики полупроводниковых приборов. В учебной дисциплине дается краткий вывод основных статистических функций распределения. Рассматриваются равновесные свойства электронов, дырок, фононов в образцах материалов различной размерности. Анализируется влияние магнитного и электрического полей на заполнение электронами состояний в зонах разрешенных значений энергии, а также статистика точечных атомных дефектов в кристаллической структуре и их зарядовые состояния. Излагается статистический метод; рассматриваются равновесные свойства квазичастиц (электронов, дырок, фононов). Анализируется влияние магнитного и электрического полей на заполнение электронных и дырочных состояний, а также статистика точечных дефектов в кристаллах. Рассматриваются кинетическим процессы с участием электронной и фононной подсистем кристалла. Разбираются вопросы миграции электронов по неподвижным точечным дефектам (атомам примесей). Излагаются важные для приложений в полупроводниковой электронике аспекты конденсированных систем. Рассматриваются основные факторы, влияющие на технологические процессы изготовления устройств микро- и наноэлектроники. Приводятся возможности и ограничения важнейших методов исследования материалов на различных стадиях технологических процессов. Дается представление о роли точечных дефектов строения (структуры) кристаллических полупроводниковых материалов в формировании термодинамических (например, экранирование электростатического поля, плотность электронных состояний) и кинетических (электропроводность, термоэдс) свойств кристаллических тел.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУ, Физический факультет, Кафедра физики полупроводников и наноэлектроникиru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleЭлектронные процессы и статистическая физика полупроводников: учебная программа УВО по учебной дисциплине для специальности 1-31 04 08 Компьютерная физика. № УД-13213/уч.ru
dc.typesyllabusru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
Располагается в коллекциях:Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники

Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.