Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/32084
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Колесников, В. М. | - |
dc.contributor.author | Осин, С. А. | - |
dc.date.accessioned | 2013-02-06T12:30:36Z | - |
dc.date.available | 2013-02-06T12:30:36Z | - |
dc.date.issued | 2000 | - |
dc.identifier.citation | Квантовая электроника | ru |
dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/32084 | - |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | БГУ | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника | ru |
dc.title | Микроинтерферометр для контроля размеров субмикронных топологических элементов | ru |
Appears in Collections: | 2000. Квантовая электроника |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.