Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/32068
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКугейко, М. М.-
dc.contributor.authorСемёнов, А. Е.-
dc.contributor.authorВиленчиц, Б. Б.-
dc.date.accessioned2013-02-06T12:22:56Z-
dc.date.available2013-02-06T12:22:56Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.citationКвантовая электроникаru
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/32068-
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleУстройство для контроля качества обработки поверхностейru
Располагается в коллекциях:2000. Квантовая электроника

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
105.pdf32,66 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.