Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/315224
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЛобанок, М. В.
dc.contributor.authorЗайков, В. А.
dc.contributor.authorГринкевич, А. А.
dc.contributor.authorЩербич, И. Д.
dc.contributor.authorСуконкина, А. О.
dc.date.accessioned2024-06-28T12:11:06Z-
dc.date.available2024-06-28T12:11:06Z-
dc.date.issued2024
dc.identifier.citationКомпьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024) : материалы IV Междунар. науч.-практ. конф., Минск, 25–26 апр. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Скакун (гл. ред.), Н. Н. Яцков, В. В. Гринёв. – Минск : БГУ, 2024. – С. 83-86.
dc.identifier.isbn978-985-881-636-0
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/315224-
dc.descriptionСекция «Интеллектуальные технологии и системы»
dc.description.abstractНа базе четырехзондового измерителя сопротивления ИУС-3 и микроконтроллера ESP32 предложено программное и схемотехническое решение для автоматизации измерений температурных электрофизических характеристик тонкопленочных материалов. В тестовом режиме на покрытиях TiAlCuN, нанесенных реактивным магнетронным распылением, проведено успешное испытание макета прибора
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Автоматика. Вычислительная техника
dc.titleАвтоматизация измерений электрофизических характеристик тонкопленочных материалов
dc.typeconference paper
Располагается в коллекциях:2024. Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
83-86.pdf739,47 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.