Оценка параметров поворота объектов на основе анализа серии последовательных изображений: аннотация к дипломной работе / Иван Васильевич Налбандов, БГУ, Факультет радиофизики и компьютерных технологий, Кафедра квантовой радиофизики и оптоэлектроники; науч. рук. – доцент Микитчук Е.П.

Abstract

В работе проведено исследование методов оценки параметров поворота объектов на последовательности изображений. Рассмотрены различные методы на основе: матриц поворота, нейронных сетей, логполярных и аффинных преобразований. Выбраны методы логполярных и аффинных преобразований, из-за их простоты и эффективности, относительно высокой скорости обработки и однозначности.