Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/304048
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorIvakin, E. V.-
dc.contributor.authorTolstik, A. L.-
dc.date.accessioned2023-11-01T06:11:22Z-
dc.date.available2023-11-01T06:11:22Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationЖурнал Белорусского государственного университета. Физика = Journal of the Belarusian State University. Physics. – 2023. – № 3. – С. 4-9ru
dc.identifier.issn2520-2243-
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/304048-
dc.description.abstractAdvantages of the transient grating method for contactless study of thin-film materials have been demonstrated. Thin films of diamond-like carbon and thermoelectric lead telluride have been studied. Transient gratings are formed on a surface of film due to absorption of nanosecond pulsed laser radiation. The diffracted signal character enables the heat transfer parameters and thermal diffusivity determination. The transient grating period increase leads to transfer from thermal diffusivity of thin film measurements to its effective value determination, with a contribution made by the substrate. At large period of the grating one can realise measurements of thermal diffusivity of the substrate itself. Acoustic wave excitation in the near-surface thin layer of the air, which earlier has been considered as a factor distorting the diffracted signal dynamics is of special interest. In this case there is a possibility to temperature measurement of the film when it is heated by a laser pulse.ru
dc.language.isoenru
dc.publisherМинск : БГУru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleDetermination of heat transfer parameters in absorbing thin films on substrate by the transient grating methodru
dc.title.alternativeОпределение параметров теплопереноса в тонкой поглощающей пленке на подложке методом динамических решеток / Е. В. Ивакин, А. Л. Толстикru
dc.typearticleru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
dc.description.alternativeПродемонстрированы преимущества использования метода динамических решеток для бесконтактного изучения тонкопленочных материалов. Рассмотрены тонкие (микронные) пленки алмазоподобного углерода и термоэлектрические материалы на основе теллурида свинца. Установлено, что при поверхностном поглощении лазерного импульсного излучения наносекундной длительности в тонкопленочном материале формируется динамическая решетка, время релаксации которой позволяет определить параметры теплопереноса и рассчитать коэффициенты температуропроводности. Увеличение периода динамической решетки сопровождается переходом от измерения температуропроводности тонкой пленки к установлению эффективного значения температуропроводности, в которую начинает вносить вклад подложка, и при большом периоде решетки можно определять температуропроводность самой подложки. Особый интерес вызывает эффект возбуждения акустической волны в приповерхностном слое воздуха, который ранее рассматривался как фактор, искажающий динамику дифрагированного сигнала. Показано, что в этом случае появляется возможность измерить температуру пленки при ее нагреве лазерным импульсом.ru
Располагается в коллекциях:2023, №3

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
4-9.pdf589,84 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.