Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/302798
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor | Углов, В. В. | ru |
dc.contributor | Веремей, И. С. | ru |
dc.date.accessioned | 2023-10-04T14:27:57Z | - |
dc.date.available | 2023-10-04T14:27:57Z | - |
dc.date.issued | 2022 | - |
dc.identifier.other | Рег. № НИР 20220673 | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/302798 | - |
dc.description.abstract | Объектами исследования являлись многослойные пленки, состоящие из керамических слоев ZrN и металлического стекла (Zr-Cu). Пленки облучали ионноми He2+ с энергией 40 кэВ и флюенсами от 5×1016 до 1.1×1018 см-2. Целью данной работы являлось исследование элементного и фазового состава, внутренних напряжений, морфологии поверхности многослойных пленок нк-ZrN/а-ZrCu с кристаллическими и аморфными слоями, облученных низкоэнергетическими ионами гелия. В работе применялись следующие методы исследования – сканирующая электронная микроскопия, рентгеноспектральный микроанализ, рентгеноструктурный анализ. В результате исследования поверхность пленок оставалась стабильной вплоть до флюенса 5×1017 см-2. Выявлено, что с повышением флюенса ионов радиационная эрозия поверхности развивается по механизму флекинга. Установлено, что увеличение толщины аморфного слоя и содержания меди повышают стойкость к облучению (критический флюенс увеличивается от 5×1017 см-2 до 8×1017 см-2. Облучение ионами гелия приводит к снижению уровня сжимающих напряжений. Полученные результаты исследований могут быть использованы для создания новых перспективных материалов с высокой радиационной стойкостью, а также для разработки новых высокоэффективных процессов плазменной и ионной обработки материалов. Разработка данных процессов представляет интерес для предприятий машиностроения и ядерной энергетики Республики Беларусь. | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | Минск : БГУ | ru |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/closedAccess | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Химия | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Химическая технология. Химическая промышленность | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Энергетика | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Машиностроение | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Металлургия | ru |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
dc.title | Элементный, фазовый состав и внутренние напряжения в многослойных пленках НК-ZrN/А-ZrCu, облученных ионами гелия : отчет о научно-исследовательской работе (заключительный) / БГУ ; научный руководитель В. В. Углов | ru |
dc.type | report | ru |
dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
Располагается в коллекциях: | Отчеты 2022 |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Отчет 20220673 Углов.docx | 1,78 MB | Microsoft Word XML | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.