Logo BSU

Поиск


Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1471-1480 из 1649.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2023Модифицирование ортопедических полимерных материалов под действием вакуумного ультрафиолетового излученияВасилец, В. Н.; Веляев, Ю. О.; Торхов, Н. А.; Потопахин, Л. В.; Мосунов, А. А.; Евстигнеев, М. П.
2023Влияние облучения ионами Xe с энергией 167 МэВ на сверхпроводящие свойства ВТСП лент 2-го поколенияДегтяренко, П. Н.; Скуратов, В. А.; Овчаров, А. В.; Петржик, А. М.; Семина, В. К.; Гаврилкин, С. Ю.; Новиков, М. С.; Малявина, А. Ю.
2023Термодинамические параметры высокоэнтропийных сплавов CoCrFeNi и CoCrFeMnNi, облученных ионами He2+Аманжулов, Б. С.; Иванов, И. А.; Рыскулов, А. Е.; Курахмедов, А. Е.; Унгарбаев, Е. О.
2023Радиационно-индуцированные процессы в пленках негативного фоторезиста на монокристаллическом кремнииБринкевич, Д. И.; Гринюк, Е. В.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.
2023Спектры нарушенного полного внутреннего отражения облученных электронами пленок полиимидаБринкевич, Д. И.; Гринюк, Е. В.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.; Ластовский, С. Б.
2023Влияние электронного облучения на трансформацию азотсодержащих дефектов в HPHT алмазахАзарко, И. И.; Сидоренко, Ю. В.; Карпович, И. А.; Игнатенко, О. В.; Шаронов, Г. В.; Гусаков, Г. А.
2023Модель формирования кластеров дефектов в ионно-облученном кремнии: усеченная версияБелько, В. И.
2023Effect of Nitrogen Ion Implantation on the Elavated Temperature Fatigue of Shot-peened Titanium AlloyYiming Wang; Xin Wang; Chunling Xu; Bo Yu
2023Влияние облучения электронами с энергией 4 МэВ на рабочие характеристики кремниевых биполярных транзисторовМискевич, С. А.; Комаров, А. Ф.; Ювченко, В. Н.; Ермолаев, А. П.; Шпаковский, С. В.; Богатырёв, Ю. В.; Заяц, Г. М.
2023Исследование адгезионных свойств пленок полиэтилена, модифицированных электронным пучком в атмосфереМокеев, М. А.; Воробьёв, М. С.; Дорошкевич, С. Ю.; Торба, М. С.; Картавцов, Р. А.