Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/292843
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Олешкевич, А. Н. | |
dc.contributor.author | Лапчук, Н. М. | |
dc.contributor.author | Лапчук, Т. М. | |
dc.contributor.author | Волобуев, В. С. | |
dc.date.accessioned | 2023-01-26T10:07:00Z | - |
dc.date.available | 2023-01-26T10:07:00Z | - |
dc.date.issued | 2022 | |
dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 287-290. | |
dc.identifier.isbn | 978-985-881-440-3 | |
dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/292843 | - |
dc.description | Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках | |
dc.description.abstract | Исследование методом электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) релаксационных процессов в имплантированных ионами фосфора пленках полиэтилентерефталата (ПЭТФ) проводилось с целью изучения стабильности модифицированных ионной имплантацией поверхностных слоев образцов ПЭТФ при их длительном хранении. Было показано увеличение времени парамагнитной релаксации, что свидетельствует о структурировании и частичной кристаллизации имплантированных слоев пленок ПЭТФ за время их хранения в лабораторных условиях в течение одного года | |
dc.language.iso | ru | |
dc.publisher | Минск : БГУ | |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
dc.title | Релаксационные процессы в облучённых ионами фосфора с Е = 60 кэВ плёнках полиэтилентерефталата | |
dc.title.alternative | Relaxation processes in polyethylene terephthalate films irradiated with E = 60 KeV phosphorus ions / A. N. Oleshkevich, T. M. Lapchuk, N. M. Lapchuk, V. S. Volobuyev | |
dc.type | conference paper | |
dc.description.alternative | An EPR study of relaxation processes in PET films implanted with phosphorus ions was carried out in order to study the stability of the surface layers of PET samples modified by ion implantation during their long-term storage. An increase in the paramagnetic relaxation time was shown, which indicates structuring and partial crystallization of the implanted layers of PET films during their storage under laboratory conditions for one year | |
Располагается в коллекциях: | 2022. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
287-290.pdf | 790,39 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.