Релаксационные процессы в облучённых ионами фосфора с Е = 60 кэВ плёнках полиэтилентерефталата

Олешкевич, А. Н.; Лапчук, Н. М.; Лапчук, Т. М.; Волобуев, В. С.

Issue Date Author Title Subject

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/292843

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Олешкевич, А. Н.
dc.contributor.author	Лапчук, Н. М.
dc.contributor.author	Лапчук, Т. М.
dc.contributor.author	Волобуев, В. С.
dc.date.accessioned	2023-01-26T10:07:00Z	-
dc.date.available	2023-01-26T10:07:00Z	-
dc.date.issued	2022
dc.identifier.citation	Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 287-290.
dc.identifier.isbn	978-985-881-440-3
dc.identifier.uri	https://elib.bsu.by/handle/123456789/292843	-
dc.description	Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
dc.description.abstract	Исследование методом электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) релаксационных процессов в имплантированных ионами фосфора пленках полиэтилентерефталата (ПЭТФ) проводилось с целью изучения стабильности модифицированных ионной имплантацией поверхностных слоев образцов ПЭТФ при их длительном хранении. Было показано увеличение времени парамагнитной релаксации, что свидетельствует о структурировании и частичной кристаллизации имплантированных слоев пленок ПЭТФ за время их хранения в лабораторных условиях в течение одного года
dc.language.iso	ru
dc.publisher	Минск : БГУ
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subject	ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.title	Релаксационные процессы в облучённых ионами фосфора с Е = 60 кэВ плёнках полиэтилентерефталата
dc.title.alternative	Relaxation processes in polyethylene terephthalate films irradiated with E = 60 KeV phosphorus ions / A. N. Oleshkevich, T. M. Lapchuk, N. M. Lapchuk, V. S. Volobuyev
dc.type	conference paper
dc.description.alternative	An EPR study of relaxation processes in PET films implanted with phosphorus ions was carried out in order to study the stability of the surface layers of PET samples modified by ion implantation during their long-term storage. An increase in the paramagnetic relaxation time was shown, which indicates structuring and partial crystallization of the implanted layers of PET films during their storage under laboratory conditions for one year
Appears in Collections:	2022. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
287-290.pdf		790,39 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record Google Scholar