Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/292833
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Головчук, В. И. | |
dc.contributor.author | Бумай, Ю. А. | |
dc.contributor.author | Величка, А. Д. | |
dc.contributor.author | Лукашевич, М. Г. | |
dc.contributor.author | Лядов, Н. М. | |
dc.contributor.author | Файзрахманов, И. А. | |
dc.contributor.author | Хайбуллин, Р. И. | |
dc.date.accessioned | 2023-01-26T10:06:58Z | - |
dc.date.available | 2023-01-26T10:06:58Z | - |
dc.date.issued | 2022 | |
dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : материалы X Междунар. науч. конф., Минск, 12–14 окт. 2022 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2022. – С. 244-249. | |
dc.identifier.isbn | 978-985-881-440-3 | |
dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/292833 | - |
dc.description | Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках | |
dc.description.abstract | В работе представлены результаты экспериментального исследования и интерполяции температурных зависимостей сопротивления нанокристаллических пленок железа, полученных на кремниевых подложках методом ионно-ассистированного осаждения. Показано, что в низкотемпературном интервале (5 K < Т < 35 K) увеличение сопротивления при понижении температуры обусловлено размерно-зависимыми процессами слабой локализации и электрон-электронного взаимодействия. Процессы электрон-электронного взаимодействия остаются трехмерными при понижении температуры, в то время как процессы слабой локализации показывают переход к двумерному транспорту при Т ≈ 20К, обусловленный превышением характеристической длины слабой локализации толщины пленки | |
dc.language.iso | ru | |
dc.publisher | Минск : БГУ | |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
dc.title | Низкотемпературная проводимость тонких нанокристаллических пленок железа: сильная или слабая локализация? | |
dc.title.alternative | Low-temperature conductivity of thin nanocrystalline iron films: strong or weak localization? / V. I. Golovchuk, Yu. A. Bumai, M. G. Lukashevich, N. M. Lyadov, I. A. Faizrakhmanov, R. I. Khaibullin | |
dc.type | conference paper | |
dc.description.alternative | The paper presents the results of an experimental study and interpolation of the temperature dependences of the resistance of nanocrystalline iron films obtained on silicon substrates by ion-assisted deposition. It is shown that in the low-temperature range (5 K < T < 35 K) the increase in resistance with decreasing temperature is due to size-dependent processes of weak localization and electron-electron interaction. The processes of electron-electron interaction have a three-dimensional character with decreasing temperature, while the processes of weak localization show a transition from a three-dimensional to a two-dimensional electronic transport at T ≈ 20 K, due to the excess the weak localization characteristic length the film thickness | |
Располагается в коллекциях: | 2022. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
244-249.pdf | 626,08 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.