Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/290377
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorИвакин, Е. В.-
dc.contributor.authorТолстик, А. Л.-
dc.contributor.authorГорбач, Д. В.-
dc.contributor.authorСтанкевич, А. А.-
dc.date.accessioned2022-12-08T08:39:23Z-
dc.date.available2022-12-08T08:39:23Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationИнженерно-физический журнал – 2022. – Т. 95, № 4. – С. 1042–1047.ru
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/290377-
dc.description.abstractПроведены измерения температуропроводности тонких и объемных образцов теллурида свинца, ле- гированных индием, с использованием модифицированного метода динамических решеток. Для записи тепловых решеток использовалось импульсное лазерное излучение длительностью 20 нс на длине волны 532 нм. Восстановление динамических решеток осуществлялось на длине волны 635 нм непрерывным лазерным излучением. Анализ кинетики сигнала дифракции позволил определить время жизни тепловых динамических решеток, записываемых в исследуемых образцах. Показано, что использование дополнительного поля гомодина, когерентного по отношению к полю сигнала дифракции, позволяет усилить и отфильтровать выбранную информационную компоненту. На основании зарегистрированных кинетических зависимостей интенсивности дифрагированного сигнала определена температуропроводность объемных и тонкопленочных образцов теллурида свинца, легированного индием. Установлено, что для пленки микронной толщины температуропроводность на десять процентов ниже, чем для объемного образца. Исследована зависимость теплопереноса в указанных образцах от их температуры и показано, что увеличение температуры образцов в диапазоне от 40 до 95 oС приводит к двадцатипроцентному уменьшению их температуропроводности.ru
dc.language.isoruru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleИсследование теплопереноса в объемном и тонкопленочном образцах PbInTe методом динамических решетокru
dc.typearticleru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
Располагается в коллекциях:Кафедра лазерной физики и спектроскопии (статьи)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
ИФЖ 2022 rus.pdf643,81 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.