Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/288057
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorShlimas, D.I.-
dc.contributor.authorKozlovskiy, A.L.-
dc.contributor.authorKaliekperov, M.E.-
dc.contributor.authorKadyrzhanov, K.K.-
dc.contributor.authorUglov, V.V.-
dc.date.accessioned2022-10-27T11:38:11Z-
dc.date.available2022-10-27T11:38:11Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationEurasia J Phys Funct Mater 2020;4(3):234-241.ru
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/288057-
dc.description.abstractThe paper presents the results of changes in the strength characteristics of thin-film coatings based on compounds of copper-bismuth, copper-magnesium, copper-nickel. The dependences of the influence of the phase composition on the strength characteristics, such as the coefficient of friction, bending strength and impact coefficient, are established. The effect of irradiation with helium ions with a high radiation dose of 1015-1017 ion/cm2 on the strength characteristics is evaluated. It is shown that an increase in the radiation dose leads to a decrease in strength properties due to the appearance of a large concentration of defects in the structure.ru
dc.language.isoenru
dc.publisherL.N. Gumilyov Eurasian National Universityru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleStudy of the strength characteristics and radiation resistance of thin-film coatings based on CuX (X=Bi, Mg, Ni)ru
dc.typearticleru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
dc.identifier.DOI10.29317/EJPFM.2020040305-
dc.identifier.scopus85102838869-
Располагается в коллекциях:Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
15-144-1-PB.pdf666,94 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.