Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/283430Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Шевяков, Илья Андреевич | - |
| dc.date.accessioned | 2022-07-01T10:20:13Z | - |
| dc.date.available | 2022-07-01T10:20:13Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/283430 | - |
| dc.description.abstract | В дипломной работе изучается моделирование интегральных приборных структур и их электрических характеристик. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск: БГУ | ru |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Расчёт электрических характеристик слоев SiC/Si: аннотация дипломной работы / Илья Андреевич Шевяков; БГУ, факультет радиофизики и компьютерных технологий, кафедра физической электроники и нанотехнологий; науч. рук. Прокопьев Станислав Леонидович | ru |
| dc.type | annotation | ru |
| dc.rights.license | CC BY 4.0 | ru |
| dc.description.alternative | The thesis studies the modeling of integrated instrument structures and their electrical characteristics. | ru |
| Располагается в коллекциях: | Радиофизика. 2022 | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Shevakov_rfe_ref.pdf | 244,3 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.