Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/28311Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Прокопьев, С. Л. | - |
| dc.contributor.author | Гацкевич, Е. И. | - |
| dc.contributor.author | Степихова, М. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2013-01-08T12:26:09Z | - |
| dc.date.available | 2013-01-08T12:26:09Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of Radiation with Solids: Материалы 9-й Междунар. конф., 20-22 сент. 2011 г. — Минск,2011. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/28311 | - |
| dc.description.abstract | Методами просвечивающей электронной микроскопии и фотолюминесценции исследованы структурные и оптиче- ские свойства структур Si/Si1-xGex:Er/Si после эпитаксиального выращивания и последующей обработки импульсным лазерным излучением. Структуры выращивались методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии на крем- ниевых подложках с ориентацией (001) и подвергались лазерному отжигу импульсами длительностью 80 нс с плотно- стью энергии 0,95 Дж/см2 и 1,5 Дж/см2 на длине волны 694 нм. Измерения методом фотолюминесценции проводились при температуре 77 К. Результаты обсуждаются с учетом влияния дефектной структуры слоев Si/Si1-xGex:Er/Si на их оптические свойства. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | СТРУКТУРНЫЕ И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СЛОЕВ Si/Si1-xGex:Er/Si, ОБЛУЧЕННЫХ ЛАЗЕРНЫМИ ИМПУЛЬСАМИ | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2011. Взаимодействие излучений с твердым телом | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Прокопьев СЛ-испр2.pdf | 545,96 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.